Autor: Chi–Lun Cheng, John W. Van Ness
Wydawca: Wiley
Dostępność: 3-6 tygodni
Cena: 389,55 zł
Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.
ISBN13: |
9780470711064 |
ISBN10: |
047071106X |
Autor: |
Chi–Lun Cheng, John W. Van Ness |
Oprawa: |
Hardback |
Rok Wydania: |
1999-02-26 |
Ilość stron: |
282 |
Wymiary: |
246x164 |
Tematy: |
PB |
Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem–proof format.
Książek w koszyku: 0 szt.
Wartość zakupów: 0,00 zł
Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.
Al. Pokoju 29b/22-24
31-564 Kraków
Siedziba Księgarni
ul. Kordylewskiego 1
31-542 Kraków
+48 12 410 5991
+48 12 410 5987
+48 12 410 5989
Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.
© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.
Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy