Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

A Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy - ISBN 9783319984810

A Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy

ISBN 9783319984810

Autor: Ul-Hamid

Wydawca: Springer

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 706,65 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9783319984810

Autor:      

Ul-Hamid

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2018

<div>This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds?including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia?emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.</div><div>A Beginners? Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book </div><div>provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.</div><div></div>

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy