Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Surface Characterization Techniques: From Theory to Research - ISBN 9783110655995

Surface Characterization Techniques: From Theory to Research

ISBN 9783110655995

Autor: Rawesh Kumar

Wydawca: de Gruyter

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 572,25 zł


ISBN13:      

9783110655995

ISBN10:      

3110655993

Autor:      

Rawesh Kumar

Oprawa:      

Paperback

Rok Wydania:      

2022-03-21

Ilość stron:      

207

This book covers 10 surface characterization techniques divided into three sections. The first section covers the theoretical background, instrumentation and their salient features and a general understanding behind the results. The second section delves into deeper discussion of every terminology and concept. The third section is composed of 5 sets of examples from different research papers for every technique.

Covers Characterization Techniques including SEM, TEM, STM, X-ray Diffraction, Temperature Programmed Adsorption and Desorption, and Surface Area Pore Size Analysis and Isotherms etc.

Equally important to people in academia and industr

Author information

Rawesh Kumar, Indus University, India.

1 Surface area and porosity
 Requires Authentication
2 Temperature-programmed surface techniques
 Requires Authentication
3 Fourier-transform infrared spectroscopy (FT-IR)
 Requires Authentication
4 UV–vis spectroscopy
 Requires Authentication
5 Nuclear magnetic resonance spectroscopy
 Requires Authentication
6 X-ray diffraction (XRD)
 Requires Authentication
7 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
 Requires Authentication
8 Scanning electron microscopy (SEM)
 Requires Authentication
9 Transmission electron microscopy (TEM)
 Requires Authentication
10 Scanning tunneling microscopy
 Requires Authentication
Annexure I
 Requires Authentication
Annexure II
 Requires Authentication
Annexure III
 Requires Authentication
Annexure IV
 Requires Authentication
Annexure V
 Requires Authentication
Annexure VI
 Requires Authentication
Index
 Requires Authentication

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków

+48 12 414 3791

+48 12 414 3387


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5989

+48 12 414 3767

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy