Wydawcy
Katalog tematyczny
- Archeologia (100)
- Ekonomia, finanse, business (13705)
- Filozofia (1445)
- Historia (3037)
- Języki i językoznawstwo (2356)
- Lifestyle, hobby i rozrywka (475)
- Medycyna (9698)
- Nauki humanistyczne (4)
- Nauki o Ziemi i środowisku (2614)
- Nauki ścisłe (20455)
- Nauki społeczne (8475)
- Nauki techniczne (13452)
- Budownictwo lądowe (1046)
- Chemia przemysłowa (2259)
- Elektronika i telekomunikacja (3294)
- Energetyka (1123)
- Inne nauki stosowane (363)
- Inżynieria biochemiczna (508)
- Inżynieria transportu (233)
- Mechanika i materiały (3310)
- Nauka o środowisku (320)
- Rolnictwo (507)
- Technika, ogólnie (472)
- Prawo (1696)
- Publikacje informacyjne i interdyscyplinarne (1288)
- Religia i wierzenia (917)
- Technika komputerowa (4075)
- Zdrowie, relacje międzyludzkie i rozwój osobisty (654)
Informacje szczegółowe o książce
Surface Characterization Techniques: From Theory to Research
ISBN 9783110655995
Autor: Rawesh Kumar
Wydawca: de Gruyter
Dostępność: 3-6 tygodni
Cena: 577,50 zł
ISBN13: |
9783110655995 |
ISBN10: |
3110655993 |
Autor: |
Rawesh Kumar |
Oprawa: |
Paperback |
Rok Wydania: |
2022-03-21 |
Ilość stron: |
207 |
This book covers 10 surface characterization techniques divided into three sections. The first section covers the theoretical background, instrumentation and their salient features and a general understanding behind the results. The second section delves into deeper discussion of every terminology and concept. The third section is composed of 5 sets of examples from different research papers for every technique.
Covers Characterization Techniques including SEM, TEM, STM, X-ray Diffraction, Temperature Programmed Adsorption and Desorption, and Surface Area Pore Size Analysis and Isotherms etc.
Equally important to people in academia and industr
Author informationRawesh Kumar, Indus University, India.
| 1 Surface area and porosity Requires Authentication |
|
| 2 Temperature-programmed surface techniques Requires Authentication |
|
| 3 Fourier-transform infrared spectroscopy (FT-IR) Requires Authentication |
|
| 4 UV–vis spectroscopy Requires Authentication |
|
| 5 Nuclear magnetic resonance spectroscopy Requires Authentication |
|
| 6 X-ray diffraction (XRD) Requires Authentication |
|
| 7 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Requires Authentication |
|
| 8 Scanning electron microscopy (SEM) Requires Authentication |
|
| 9 Transmission electron microscopy (TEM) Requires Authentication |
|
| 10 Scanning tunneling microscopy Requires Authentication |
|
| Annexure I Requires Authentication |
|
| Annexure II Requires Authentication |
|
| Annexure III Requires Authentication |
|
| Annexure IV Requires Authentication |
|
| Annexure V Requires Authentication |
|
| Annexure VI Requires Authentication |
|
| Index Requires Authentication |
Koszyk
Książek w koszyku: 0 szt.
Wartość zakupów: 0,00 zł
Informacje
Kontakt
Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.
Al. Pokoju 29b/22-24
31-564 Kraków
+48 12 414 3791
+48 12 414 3387
Siedziba Księgarni
ul. Kordylewskiego 1
31-542 Kraków
+48 12 410 5989
+48 12 414 3767
Subskrypcje
Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.
Autoryzacja płatności
Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.
© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.
Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy