Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products - ISBN 9781856175173

Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

ISBN 9781856175173

Autor: Bowen, RichardHilal, Nidal

Wydawca: Elsevier

Dostępność: Wysyłka w ciągu 2-3 dni

Cena: 749,70 zł


ISBN13:      

9781856175173

Autor:      

Bowen, RichardHilal, Nidal

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2009-07-03

Tematy:      

TD

This is the first book to bring together both the basic theory and proven process engineering practice of AFM. It is presented in a way that is accessible and valuable to practising engineers as well as to those who are improving their AFM skills and knowledge, and to researchers who are developing new products and solutions using AFM.

The book takes a rigorous and practical approach that ensures it is directly applicable to process engineering problems. Fundamentals and techniques are concisely described, while specific benefits for process engineering are clearly defined and illustrated. Key content includes: particle-particle, and particle-bubble interactions; characterization of membrane surfaces; the development of fouling resistant membranes; nanoscale pharmaceutical analysis; nanoengineering for cellular sensing; polymers on surfaces; micro and nanoscale rheometry.



Atomic force microscopy (AFM) is an important tool for process engineers and scientists as it enables improved processes and productsThe only book dealing with the theory and practical applications of atomic force microscopy in process engineeringProvides best-practice guidance and experience on using AFM for process and product improvement

Basic Principles of Atomic Force Microscopy; Measurement of Particle and Surface Interactions Using Force Microscopy; Quantification of Particle-Bubble Interactions Using Atomic Force Microscopy; Investigating Membranes and Membrane Processes with Atomic Force Microscopy; AFM and Development of (Bio)Fouling Resistant Membranes; Nanoscale Analysis of Pharmaceuticals by Scanning Probe Microscopy; Micro/Nanoengineering and AFM for Cellular Sensing; Atomic Force Microscopy and Polymers on Surfaces; Application of AFM for the Study of Tensile and Microrheological Properties of Fluids; Future Prospects

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy