Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light - ISBN 9781848219366

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

ISBN 9781848219366

Autor: Pierre-Richard Dahoo

Wydawca: Wiley

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 501,90 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9781848219366

ISBN10:      

1848219369

Autor:      

Pierre-Richard Dahoo

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2016-08-12

Ilość stron:      

316

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

1. Uncertainties. 2. Reliability-based Design Optimization. 3. The Wave Particle Nature of Light. 4. The Polarization States of Light. 5. Interaction of Light and Matter. 6. Experimentation and Theoretical Models. 7. Defects in a Heterogeneous Medium. 8. Defects at the Interfaces. 9. Application to Nanomaterials. 1. Uncertainties. 2. Reliability-based Design Optimization. 3. The Wave Particle Nature of Light. 4. The Polarization States of Light. 5. Interaction of Light and Matter. 6. Experimentation and Theoretical Models. 7. Defects in a Heterogeneous Medium. 8. Defects at the Interfaces. 9. Application to Nanomaterials. 1. Uncertainties. 2. Reliability-based Design Optimization. 3. The Wave Particle Nature of Light. 4. The Polarization States of Light. 5. Interaction of Light and Matter. 6. Experimentation and Theoretical Models. 7. Defects in a Heterogeneous Medium. 8. Defects at the Interfaces. 9. Application to Nanomaterials.

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy