Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability - ISBN 9781785481895

Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability

ISBN 9781785481895

Autor: El Hami, AbdelkhalakPougnet, Philippe

Wydawca: Elsevier

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 500,85 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9781785481895

Autor:      

El Hami, AbdelkhalakPougnet, Philippe

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2019-11-15

Tematy:      

TGM

Mechatronics brings together computer science, mechanics and electronics. It enables us to improve the performances of embedded electronic systems by reducing their weight, volume, energy consumption and cost. Mechatronic equipment must operate without failure throughout ever-increasing service lives. The particularly severe conditions of use of embedded mechatronics cause failure mechanisms which are the source of breakdowns. Until now, these failure phenomena have not been looked at with enough depth to be able to be controlled.



Provides a statistical approach to design optimization through reliabilityPresents an experimental approach for the characterization of the development of mechatronic systems in operating modeAnalyzes new tools that effect thermal, vibratory, humidity, electric and electromagnetic stresses

1. Reliability-Based Design Optimization
2. Non-Destructive Characterization by Spectroscopic Ellipsometry of Interfaces in Mechatronic Devices
3. Method of Characterizing the Electromagnetic Environment in Hyperfrequency Circuits Encapsulated within Metallic Cavities
4. Metrology of Static and Dynamic Displacements and Deformations Using Full-Field Techniques
5. Characterization of Switching Transistors under Electrical Overvoltage Stresses
6. Reliability OF Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress
7. Internal Temperature Measurement of Electronic Components
8. Reliability Prediction of Embedded Electronic Systems: the FIDES Guide
9. Study of the Dynamic Contact Between Deformable Solids

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Formularz zamówienia

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy