Autor: Edited by James R. Lloyd , Frederick G. Yost , Paul S. Ho
Wydawca: Cambridge University Press
Dostępność: 3-6 tygodni
Cena: 203,70 zł
Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.
ISBN13: |
9781558991194 |
ISBN10: |
1558991190 |
Autor: |
Edited by James R. Lloyd , Frederick G. Yost , Paul S. Ho |
Oprawa: |
Hardback |
Rok Wydania: |
1991-10-22 |
Ilość stron: |
382 |
Wymiary: |
228 x 152 mm |
Tematy: |
Materials science |
With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put reliabilty physics on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.
Książek w koszyku: 0 szt.
Wartość zakupów: 0,00 zł
Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.
Al. Pokoju 29b/22-24
31-564 Kraków
Siedziba Księgarni
ul. Kordylewskiego 1
31-542 Kraków
+48 12 410 5991
+48 12 410 5987
+48 12 410 5989
Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.
© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.
Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy