Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices - ISBN 9781118480489

Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices

ISBN 9781118480489

Autor: Paul van der Heide

Wydawca: Wiley

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 617,40 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9781118480489

ISBN10:      

1118480481

Autor:      

Paul van der Heide

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2014-10-17

Ilość stron:      

384

Wymiary:      

243x156

Tematy:      

PN

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) has become an indispensible, fully commercialized micro–analytical technique applied in a diverse range of fields spanning the Materials Sciences, Earth sciences and Bio–Sciences with new application field continually being uncovered. This book provides a pedagogic function as well as a research tool to anyone involved in any of these forms of SIMS (senior undergraduates through seasoned professionals within academia or industry). This book does so by supplying a clear and definitive introduction to: a)      The fundaments of sputtering and secondary ion formation/survival inclusive of pertinent models for elemental and molecular emission b)      Both the theory and application, inclusive of modes of operation, of the latest instrumentation used in Static SIMS, Dynamic SIMS or Cluster SIMS c)      Data collection and processing protocols along with reasons for any distortions that can be introduced Amalgamation of theory with experimental data from a practitioner’s perspective is the core feature of this book. This is aided through the use of numerous illustrations from highly diverse fields are included. All sections are prepared such that each can be read independently of each other. Commonly used reference tables, review questions, vendors and contacts and descriptions of related techniques presented in the Appendix.  

Paul van der Heide is a recognized leader in surface analysis with emphasis on the application of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). This interest started during his PhD (completed in 1992 at the University of Auckland) which involved the design and construction of a magnetic sector SIMS instrument. Paul has since been heavily involved in the application and development of SIMS at the University of Western Ontario, the University of Houston (where he also filled in various Professor level positions), Samsung Austin Semiconductor, and most recently at GlobalFoundries (NY). Paul has ∼100 publications with this representing his 2 nd book.   

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy