Autor: Dawes, William R.
Wydawca: Elsevier
Dostępność: 3-6 tygodni
Cena: 305,55 zł
Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.
ISBN13: |
9780815512127 |
ISBN10: |
0815512120 |
Autor: |
Dawes, William R. |
Oprawa: |
Hardback |
Rok Wydania: |
1990-12-31 |
Tematy: |
TJFD |
This book describes hardening of semiconductor components against radiation and temperature. Basic mechanisms of radiation effects on electronic materials and devices are discussed first, followed by such practical topics as hardening technologies, circuit design for hardening, and, finally, hardness assurance. Discussions center mainly on silicon technology.
Interaction of Hazardous Environments with Electronic Devices
Hardened Technologies for Hazardous Environments
Circuit Design for Reliable Operations in Hazardous Environments
Packaging, Testing, and Hardness Assurance
Książek w koszyku: 0 szt.
Wartość zakupów: 0,00 zł
Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.
Al. Pokoju 29b/22-24
31-564 Kraków
Siedziba Księgarni
ul. Kordylewskiego 1
31-542 Kraków
+48 12 410 5991
+48 12 410 5987
+48 12 410 5989
Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.
© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.
Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy