Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES - ISBN 9780470847138

An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES

ISBN 9780470847138

Autor: John F. Watts, John Wolstenholme

Wydawca: Wiley

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 401,10 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9780470847138

ISBN10:      

0470847131

Autor:      

John F. Watts, John Wolstenholme

Oprawa:      

Paperback

Rok Wydania:      

2003-03-25

Ilość stron:      

226

Wymiary:      

231x167

Tematy:      

TG

An Introduction to Surface Analysis by Electron Spectroscopy is a clear and accessible introduction to the key spectroscopic techniques used in surface analysis. Focusing on the two most popular surface science techniques; X–ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Auger electron spectroscopy (AES), the book will be of benefit to both students and users in industry who require a rapid grounding in the methods before carrying out their own analysis.

Starting with an introduction to the basic concepts of electron spectroscopy, the text moves on to explain underlying physical principles, discusses the instrumentation employed and looks at the interpretation of the resulting spectra. The latest material on angle resolved XPS, surface engineering and complimentary methods have been included to provide an up–to–date account of these widely used techniques.

Examples taken from the fields of metallurgy, corrosion, microelectronics, polymers and adhesion. Detailed glossary of key surface analysis terms. An invaluable text for undergraduate and postgraduate students studying surface analysis within science and engineering. A useful reference to those working within the field and needing to familiarize themselves with these important techniques.

Preface.

Acknowledgements.

Electron Spectroscopy: Some Basic Concepts.

Electron Spectrometer Design.

The Electron Spectrum: Qualitative and Quantitative Interpretation.

Compositional Depth Profiling.

Applications of Electron Spectroscopy in Materials Science.

Comparison of XPS and AES with Other Analytical Techniques.

Glossary.

Bibliography.

John F Watts is Professor of Adhesion Science in the School of Engineering at the Unversity Surrey.  He currently leads a Research Group applying surface analysis methods to investigations in materials science and is Editor–in–Chief of the Wiley journal Surface and Interface Analysis.

John Wolstenholme is Marketing Manager at Thermo VG Scientific.  With a background in SIMS, he has been actively involved in XPS and AES for the last twelve years.

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy