Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Methods: Evaluation - Application - Assessment - ISBN 9780444824769

Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Methods: Evaluation - Application - Assessment

ISBN 9780444824769

Autor: Hauk, V.

Wydawca: Elsevier

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 1 368,15 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9780444824769

ISBN10:      

0444824766

Autor:      

Hauk, V.

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

1997-11-10

Tematy:      

TGB

The field of stress analysis has gained its momentum from the widespread applications in industry and technology and has now become an important part of materials science. Various destructive as well as nondestructive methods have been developed for the determination of stresses. This timely book provides a comprehensive review of the nondestructive techniques for strain evaluation written by experts in their respective fields.

The main part of the book deals with X-ray stress analysis (XSA), focussing on measurement and evaluation methods which can help to solve the problems of today, the numerous applications of metallic, polymeric and ceramic materials as well as of thin-film-substrate composites and of advanced microcomponents. Furthermore it contains data, results, hints and recommendations that are valuable to laboratories for the certification and accreditation of their stress analysis.

Stress analysis is an active field in which many questions remain unsettled. Accordingly, unsolved problems and conflicting results are discussed as well. The assessment of the experimentally determined residual and structural stress states on the static and dynamic behavior of materials and components is handled in a separate chapter.

Students and engineers of materials science and scientists working in laboratories and industries will find this book invaluable.

1. Introduction
2. X-ray diffraction (V. Hauk, H. Behnken, W. Reimers, W. Pfeiffer, Ch. Genzel)
3. Neutron diffraction methods (L. Pintschovius)
4. Ultrasonic techniques (E. Schneider)
5. Micromagnetic techniques (W.A. Theiner)
6. Assessment of residual stresses (B. Scholtes)

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy