Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Nanocharacterization Techniques - ISBN 9780323497787

Nanocharacterization Techniques

ISBN 9780323497787

Autor: de Oliveira, Jr, Osvaldo NovaisMarystela, Ferreira L,Gde Lima Leite, FábioLuzia Da Róz, Alessandra

Wydawca: Elsevier

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 655,20 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9780323497787

Autor:      

de Oliveira, Jr, Osvaldo NovaisMarystela, Ferreira L,Gde Lima Leite, FábioLuzia Da Róz, Alessandra

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2017-03-23

Tematy:      

TGM

Nanocharacterization Techniques covers the main characterization techniques used in nanomaterials and nanostructures. The chapters focus on the fundamental aspects of characterization techniques and their distinctive approaches. Significant advances that have taken place over recent years in refining techniques are covered, and the mathematical foundations needed to use the techniques are also explained in detail. This book is an important reference for materials scientists and engineers looking for a through analysis of nanocharacterization techniques in order to establish which is best for their needs.



Includes a detailed analysis of different nanocharacterization techniques, allowing readers to explore which one is best for their particular needsProvides examples of how each characterization technique has been used, giving readers a greater understanding of how each technique can be profitably usedCovers the mathematical background needed to utilize each of these techniques to their best effect, meaning that readers can gain a full understanding of the theoretical principles behind each technique coveredServes as an important, go-to reference for materials scientists and engineers

1. Scanning Electron Microscopy 2. Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool for Electrical Characterization 3. Spectroscopic Techniques for Characterization of Nanomaterials 4. Dynamic Light Scattering Applied to Nanoparticle Characterization 5. X-Ray Diffraction and Scattering by Nanomaterials 6. Surface Plasmon Resonance (SPR) for Sensors and Biosensors

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy