Jeżeli nie znalazłeś poszukiwanej książki, skontaktuj się z nami wypełniając formularz kontaktowy.

Ta strona używa plików cookies, by ułatwić korzystanie z serwisu. Mogą Państwo określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w swojej przeglądarce zgodnie z polityką prywatności.

Wydawcy

Literatura do programów

Informacje szczegółowe o książce

Atom Probe Tomography: Put Theory Into Practice - ISBN 9780128046470

Atom Probe Tomography: Put Theory Into Practice

ISBN 9780128046470

Autor: Lefebvre, WilliamsVurpillot, FrancoisSauvage, Xavier

Wydawca: Elsevier

Dostępność: 3-6 tygodni

Cena: 649,95 zł

Przed złożeniem zamówienia prosimy o kontakt mailowy celem potwierdzenia ceny.


ISBN13:      

9780128046470

Autor:      

Lefebvre, WilliamsVurpillot, FrancoisSauvage, Xavier

Oprawa:      

Hardback

Rok Wydania:      

2016-06-02

Tematy:      

PNFS

Atom Probe Tomography is aimed at beginners and researchers interested in expanding their expertise in this area. It provides the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques, and includes detailed explanations of the fundamentals, the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, and experimental details, as well as an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality and the proper implementation of advanced data mining algorithms.

For those more experienced in the technique, this book will serve as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables, and techniques. Both beginner and expert will value the way the book is set out in the context of materials science and engineering. In addition, its references to key research outcomes based upon the training program held at the University of Rouen-one of the leading scientific research centers exploring the various aspects of the instrument-will further enhance understanding and the learning process.



Provides an introduction to the capabilities and limitations of atom probe tomography when analyzing materialsWritten for both experienced researchers and new usersIncludes exercises, along with corrections, for users to practice the techniques discussedContains coverage of more advanced and less widespread techniques, such as correlative APT and STEM microscopy

Introduction

Chapter 1. Atom Probe Fundamentals

Chapter 2. Field Ion Emission Mechanisms

Chapter 3. Field Ion Microscopy

Chapter 4. Specimen Preparation by Focused Ion Beam

Chapter 5. Time of Flight Mass Spectrometry and Composition Measurements

Chapter 6. Atom Probe Tomography Detectors

Chapter 7. 3D Reconstructions

Chapter 8. Laser Assisted Field Evaporation

Chapter 9. Data Mining

Chapter 10. Correlative Microscopy by APT and (S)TEM

Chapter 11. Combining APT and Spectroscopy

Conclusion

Appendix

Index

Koszyk

Książek w koszyku: 0 szt.

Wartość zakupów: 0,00 zł

ebooks
covid

Kontakt

Gambit
Centrum Oprogramowania
i Szkoleń Sp. z o.o.

Al. Pokoju 29b/22-24

31-564 Kraków


Siedziba Księgarni

ul. Kordylewskiego 1

31-542 Kraków

+48 12 410 5991

+48 12 410 5987

+48 12 410 5989

Zobacz na mapie google

Wyślij e-mail

Subskrypcje

Administratorem danych osobowych jest firma Gambit COiS Sp. z o.o. Na podany adres będzie wysyłany wyłącznie biuletyn informacyjny.

Autoryzacja płatności

PayU

Informacje na temat autoryzacji płatności poprzez PayU.

PayU banki

© Copyright 2012: GAMBIT COiS Sp. z o.o. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Projekt i wykonanie: Alchemia Studio Reklamy